低溫槽又名低溫儀。用于低溫沖擊試驗時冷卻試樣，無需干冰或液氮，制冷速度快，控溫精度高，低溫沖擊試驗是很重要的試驗，特別是試驗溫度處于被試材料的脆性轉變溫度區(qū)域內(nèi)，試驗溫度的較小變化都會引起試驗數(shù)據(jù)的巨大變化、陡跳，這樣往往會使合格的材料變成不合格，反之亦然。

　　目前國內(nèi)理化試驗室的低溫沖擊試驗，主要采用干冰或液態(tài)加酒精，這種zui原始方法非常麻煩危險，且控溫精度低，因為普通溫度計誤差很大，從而導致試驗時溫度偏差很大，同時由于沒有攪拌機構而使整個溫度場內(nèi)的不均勻梯度很大。另外，這有少量試驗室采用半導體制冷槽，但這種低溫裝置極易損壞且不實用，主要原因是必須提供足量且不間斷的冷卻水，其次是半導體硅堆極易損壞，且降溫速度還很慢。